计算机视觉工学硕士,专注工业质检算法研发与落地,精通YOLO/MMSegmentation/Paddle全栈开发体系。具备精密制造场景多模态缺陷检测核心能力:①基于YOLOv8-InstanceSeg构建手机部件(镜头/屏幕/金属结构件)的亚像素级缺陷定位系统,AOI检测准确率>99.5%;②主导开发多尺度晶圆缺陷分类网络,支持14nm制程5μm级划痕/颗粒物实时检测,漏检率<0.3%;③设计PaddleOCR+RPA工业界面动态识别引擎,攻克触控屏反光干扰难题,实现机械臂操作指令毫秒级响应。掌握模型轻量化压缩(TensorRT量化/蒸馏),累计输出1项发明专利,算法方案在苹果供应链及半导体龙头产线实现年降本超2000万元。
半导体材料项目
1、ADC-CUBB缺陷测量算法开发主导算法开发与部署,成功满足客户对CUBB缺陷的精准测量需求,完成测试环境部署。
2、RPA-EGGD3A界面识别算法开发设计并实现界面识别算法,适配客户测试环境,达成客户界面自动化判断和结果返回。
中芯国际项目
1、ADC-MB1/MB11缺陷检测算法开发负责全桥半桥缺陷算法开发,覆盖MB1、MB11等型号,部署至测试环境并初步满足客户需求。
2、完成二期EAP界面识别算法开发,满足客户界面识别要求。
apple iPhone小孔检测
1、Apple螺丝孔缺陷检测,结合目标检测和语义分割以及传统视觉算法,做到0漏检,过检低于5%。
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